J. Kortus
Defektstabilisierte Metalloxide als Dielektrika für elektronische Bauelemente
D. Meyer
tu-freiberg.deJ. Kortus
Defect stabilized metal oxides as dielectrics for electronic elements
D. Meyer
tu-freiberg.deMessequipment ( Oszilloskope, Logic Analyzer, Pattern Generator, Spectrum Analyzer, Impedance Analyzer, LCR-Meter ) für ( Tieftemperatur- ) Elektronik
Tieftemperaturmesskammer für die Charakterisierung elektronischer Bauelemente und Baugruppen bis -196 ° C ( Eigenentwicklung )
20-kanaliges Messgerät für den Anschluss von Temperatursensoren
www.ibmt.fraunhofer.demeasurement equipment ( oscilloscopes, logic analyzers, pattern generators, spectrum analyzers, impedance analyzer, LCD-meter ) for ( low-temperature ) electronics
low-temperature measurement chamber for the characterization of electronic components and assemblies down to -196 °C (own development)
20-channel measurement instrument for the connection of temperature sensors
www.ibmt.fraunhofer.deEntwicklung von ( Tieftemperatur- ) Elektronik-Messplätzen
Test und Charakterisierung elektronischer Bauelemente und Baugruppen bis zu einer Temperatur von -196 ° C
Test und Charakterisierung von Materialermüdung durch Temperaturstress
www.ibmt.fraunhofer.dedevelopment of ( low-temperature ) electronic measurement stations
test and characterization of electronic components and assemblies down to liquid nitrogen temperatures (-196 °C/77K)
test and characterization of material fatigue due to temperature stress
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