RF-lab in a shielded cabin
Example of an DC- and S-parameters test setup for n channel RF CMOS transistors
output characteristic Id ( Vgs, Vds )
www.imms.deHF-Labor in geschirmter Messzelle
Messung der DC- und S-Parameter am Beispiel eines n-Kanal HF CMOS-Transistors
Ausgangskennlinienfeld Id ( Vgs, Vds )
www.imms.deAssisted my modern CAD-Tools like the software package HFSS by Ansoft, 3D-field simulations can be executed.
We calculate electromagnetic fields in any formed passive structure, like connectors, bushings for housings, filters, antennas, Bond wires etc. S-Parameter sets can also be generated, for import into linear and nonlinear circuit simulators like z.B. AGILENT ADS.
The creating of layouts for Multilayer-Boards with mixed dielectrica or in LTCC-Technique with data rates >10 Gbit/s expand ourrange of services.
www.ssb.deMit Hilfe moderner CAD-Tools wie z.B. dem Softwarepaket HFSS von Ansoft können 3D- Feldsimulationen durchgeführt werden.
Wir berechnen elektromagne- tische Felder in beliebig geformten passiven Strukturen wie z.B. Steckern, Gehäusedurchführungen, Filtern, Antennen, Bonddrähten usw.Es können auch S-Parametersätze für den Import in lineare und nichtlineare Schaltungssimulatoren wie z.B. AGILENT ADS erzeugt werden.
Die Layouterstellung für Multilayer-Leiterplatten mit gemischten Dielektrika oder in LTCC-Technik mit Datenraten >10 Gbit/s erweitert unser Dienstleistungsangebot.
www.ssb.deFacilities
S-Parameter-measurement system up to 50 GHz (on-wafer), noise figure measurement system (on-wafer), microwave transition analyzer, DC-Parameter analyzer, sampling oscilloscope 70 GHz design tools for analogue, digital and microwave circuits (schematic, simulation and layout), PCB fabrication, bit error tester up to 50 Gbit/s.
Laser sources VIS and NIR, optical spectrum analyzer, polarisation analyzer, optical power meter, Streak-camera, design tools for optoelectronic and optical devices.
www.uni-stuttgart.deEinrichtungen
S-Parameter-Messplätze bis 50 GHz (On-Wafer), Rauschmessplatz (On-Wafer), 70 GHz-Sampling Oszilloskop, Microwave Transition Analyzer, DC-Kennlinen- Messplatz, Entwicklungswerkzeuge für analoge, digitale und höchstfrequente Schaltungen (Schaltplaneingabe, Simulation und Layouterstellung), Leiterplattenherstellung für HF-Schaltungen, Bitfehlerratenmessplatz bis 40 Gbit/s.
Laserquellen bei 850 nm, 1300 nm, 1550 nm, Monochromator, optischer Spektrumanalysator, Streak-Kamera, Polarisationsanalysator, optische Leistungsmesser, Entwicklungswerkzeuge für optoelektronische und optische Komponenten, optische Transmitter bis 40 Gbit/s.
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Messung der DC- und S-Parameter am Beispiel eines n-Kanal HF CMOS-Transistors
Ausgangskennlinienfeld Id ( Vgs, Vds )
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