RASTERMIKROSKOP - Prevod od nemački do engleski

Ras·ter·mi·kro·skop <-s, -e> N nt PHYS

Rastermikroskop

scanning electron microscope

Ras·ter(·elek·tro·nen)·mi·kro·skop N nt

Raster(elektronen)mikroskop

scanning electron microscope

Raster(elektronen)mikroskop

SEM

Primeri s interneta (nije provereno)

Bei einem Rasterelektronenmikroskop wird ein Elektronenstrahl über die zu untersuchende Probenoberfläche geführt ( Rasterung ).

chemie.uni-paderborn.de

In a scanning electron microscope an electron beam is scanned over the surface of a sample ( scanning ).

chemie.uni-paderborn.de

Das XL 40 von Philips ist ein Rasterelektronenmikroskop mit extra großer Probenkammer.

www.mv.uni-kl.de

The XL 40 manufactured by Philips is a scanning electron microscope with an extra large sample chamber.

www.mv.uni-kl.de

Für die Analyse von prozessierten Schichten und Strukturen stehen neben Lichtmikroskopen auch ein Rasterelektronenmikroskop (JEOL) und ein Rasterkraftmikroskop (DME) zur Verfügung.

www.igm.uni-stuttgart.de

There are several optical microscopes available to analyse the processed layers and structures, as well as a scanning electron microscope (JEOL) and an atomic force microscope (DME).

www.igm.uni-stuttgart.de

Seit 15 Jahren werden den meisten Erstbeschreibungen Fotos des Samens beigefügt, die unter dem Rasterelektronenmikroskop gemacht wurden - oft als REM-Aufnahmen abgekürzt.

www.internoto.de

For 15 years most first descriptions have included photos of the seed, which were made under the scanning electron microscope - often abbreviated to SEM ( REM in German ).

www.internoto.de

Focused Ion Beam mit Rasterelektronenmikroskop und angeschlossenem EDX (Zeiss Neon 40) Sputteranlage zur Probenvorbereitung:

chemie.uni-paderborn.de

Focused Ion Beam with Scanning Electron Microscope and EDX (Zeiss Neon 40) Sputtercoating sample preparation:

chemie.uni-paderborn.de